Charakteryzacja i badania powierzchni materiałów

Print Friendly

Charakteryzacja i badania powierzchni materiałów

Badania powierzchni przy użyciu mikroskopu sił atomowych AFM materiałów:

  • półprzewodnikowych, metalicznych, izolatorów oraz próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku, w zakresie temperatur od -35˚C do + 250˚C.

Tworzenie map powierzchniowych w nanoskali

  • uwzględniających takie właściwości jak: tarcie, adhezję, sprężystość, chropowatość, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczną, strukturę domen magnetycznych czy przewodność termiczną.

Badania cienkich warstw i powierzchni materiałów

w warunkach ultrawysokiej próżni (UHV) – dostępne techniki: ESCA, AES, LEED, profilowanie głębokościowe, XPS, MXPS, STM, AFM.

Wzrost i badania cienkich warstw epitaksjalnych

  • na podłożach półprzewodnikowych do 4” metodami MBE i MOCVD oraz badania ich właściwości in-situ.

Pomiary mikroskopowe powierzchni

  • za pomocą mikroskopów optycznych: w świetle przechodzącym, mikroskopów odwróconych, mikroskopów wysokorozdzielczych, metalograficznych, z możliwością grzania i chłodzenia holdera próbki.

Profilometria powierzchni:

  • Stykowa
  • Optyczna

Mikroskopia elektronowa SEM

  • Automatyczna analiza minerałów, materiałów poprodukcyjnych lub półproduktów na różnych etapach produkcji oraz osadów pyłów i gleb, w tym badania składu i identyfikacja minerałów i faz oraz charakterystyki strukturalnych właściwości, porowatości oraz rozmiaru, kształtu i rozmieszczenia ziaren
  • Obserwacje in-situ przemian zachodzących podczas podgrzewania próbek do 1400˚C
  • Analiza
  • EDS i tworzenie map EDS, w tym map z użyciem oprogramowania QEMSCAN
  • Analiza składu oraz struktury wypełnień w materiałach kompozytowych i ceramicznych (np. kompozyty polimerowe i ceramika budowlana)
  • Tworzenie trójwymiarowych map składu i struktury materiałów
  • Weryfikacja procesów technologicznych (np. jakość wytrawiania chemicznego, analiza struktury i powierzchni)
  • Submikronowa obróbka powierzchni FIB oraz EBL

Wykonywanie pomiarów

  • Statycznego i dynamicznego kąta zwilżania dla ciał stałych i folii
  • Kąta ślizgania dla ciał stałych i folii
  • Histerezy kąta zwilżania dla ciał stałych i folii
  • Wstępującego i zstępującego kąta zwilżania dla ciał stałych i folii
  • Swobodnej energii powierzchniowej dla ciał stałych i folii
  • Napięcia powierzchniowego cieczy i proszków
  • Kąta zwilżania proszków
  • Krytyczne stężenie micelarne
  • Barwy o geometrii d/8°, pomiary odbiciowe i przepuszczalności z odbiciem zwierciadlanym i bez, zakres pracy 350-1050 nm, rozdzielczość optyczna 5 nm, kontrola UV
  • Barwy, kontrola jakości zapewniająca ocenę zgodności koloru próbek z wzorcami w ramach dopuszczalnej tolerancji.
  • Połysku powierzchni – analiza powłok lakierniczych, galwanicznych, farb, tworzyw sztucznych, skór, druku oraz wszelkich powierzchni, gdzie element dekoracyjny połysku ma znaczenie
  • Połysku zgodnie z wymaganiami norm ISO 2813, ISO 7668, ASTMD523, ASTM S2457
  • Odbicia zwierciadlanego pod kątami: 20°, 60°, 85° (jednostka pomiarowa – REF)
  • Preflektancji skierowanej (RSPEC) – analiza gładkości powierzchni
  • Zmętnienia w odbiciu
  • Wyrazistości obrazu (DOI)
  • Jakości obrazu odbitego (RIQ)
Autor: Agata Kołacz, Opublikowano: 16.05.2016
plusfontminusfontreloadfont