Charakterystyka TEM struktury krystalicznej ciał stałych

Print Friendly

Charakterystyka TEM struktury krystalicznej ciał stałych

Obrazowanie

  • TEM i High resolution TEM (< 0.75Å) z napięciami: 300, 200, 80 lub 60 kV
  • BF w warunkach 2-wiązkowych
  • DF-TEM, również w warunkach słabej wiązki
  • STEM-BF/DF/HAADF
  • HR-STEM

Mikroanaliza EDS

(w punkcie lub w obszarze)

Tomografia

  • TEM
  • STEM

Dyfrakcja

  • CBED
  • SAD i mikrodyfrakcja

Inne usługi

  • Mapy i profile EDS lub HR-EDS
  • Analiza fazowa ekstrakcja składników struktury
  • Rekonstrukcja serii tomograficznej
Autor: Agata Kołacz, Opublikowano: 16.05.2016
plusfontminusfontreloadfont